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O SourceMeter 2601B-Pulse System 10 µsec combina a potência de um pulsador de alta corrente/alta velocidade com a medição e a funcionalidade completa de uma SMU tradicional em um único instrumento. Este novo pulsador oferece saída de pulso de corrente líder de 10 A
a 10 V com largura de pulso mínima de 10 µs, perfeito para testar lasers de emissão de superfície de cavidade vertical (VCSEL) usado em LIDAR e reconhecimento facial, LEDs para iluminação
e displays, caracterização de dispositivos semicondutores, testes de proteção contra surtos e muito mais.

O pulsador duplo embutido de 1 Megasample/segundo (MS/s), digitalizadores de 18bits possibilitam a aquisição de corrente de pulso e formas de onda de tensão simultaneamente sem a necessidade de usar um instrumento separado. O 2601B-PULSE Keithley é uma solução poderosa que aumenta significativamente a produtividade em aplicações que vão desde a caracterização de bancada até o teste de produção I-V pulsado altamente automatizado. 

Para aplicações de sistema automatizados, o Script Processor (TSP®) do 2601B-PULSE executa programas de teste completos de dentro do instrumento para obter o melhor rendimento do setor. Em aplicações multicanais, a tecnologia Keithley TSP-Link® trabalha em conjunto com a tecnologia TSP para permitir teste paralelo de alta velocidade, pulsador/SMU por pino. Porque o 2601B-PULSE oferece isolamento total que não requer um mainframe, ele pode ser facilmente reconfigurado e reimplantado conforme seus aplicativos de teste evoluem.

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Características principais:

• Pulsador SourceMeter
• Marca: Keithley
• Modelo: 2601B-PULSE
• Fonte de corrente do Pulsador: 1A. 5A. 10A
• Largura de pulso: 10uS até 500uS
• Fonte de tensão: 100mV, 1V, 6V, 40V
• Medição de tensão: 5V, 10V
• Resolução da corrente: 100uA
• Resolução da largura de pulso: 1uS
• Regulação da corrente : Linha 0,01% Carga: ±100 µA.
• Tempo de subida (10% a 90%) <1,7 µs para um degrau completo da corrente em qualquer tensão de carga (máximo de 10 V).
• Líder da indústria 10 A @ 10 V, 10 microssegundos
  saída de pulso
• Não requer ajuste; funciona com cargas indutivas a 3 ?H
• Digitalizadores duplos de 1 Megasample/segundo para alta velocidade
• Medições de pulso I/V (somente função de pulso)
• Capacidade DC até ±40 V @ ±1,0 A, 40 Watt
• A tecnologia TSP incorpora programas de teste completos no instrumento para a melhor taxa de transferência em nível de sistema
• Tecnologia de expansão TSP-Link para multicanal para teste paralelo sem mainframe
• Interfaces: USB 2.0, LXI Core, GPIB, RS-232 e Interface digital de E/S
• Isolamento de modo comum >1 G?, <4500 pF.
• Overrange 100% do intervalo de polarização, 101% do intervalo de origem, 102% do intervalo de medida.
• Fonte/Sensor Máximo, Resistência do condutor 0,5 ? / 100 ? por condutor.
• EMC Está em conformidade com a Diretiva EMC da União Européia.
• Segurança NRTL listado para UL61010-1:2008 e CSA C22.2 No. 61010-1. Em conformidade com a Diretiva de baixa tensão da União Europeia
• Dimensões: 2601B-PULSE ´só 105 mm x 235 mm x 445 mm
• Peso: 5,9kg
• Garantia: 01 (um) ano contra defeitos de fabricação

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O que vem incluso:

• 2601B-P-INT 2601B-PULSE Intertravamento do painel traseiro e caixa do conector de cabos
• 7709-308A - Conector de E/S Digital 
• 17469460X Cabo TSP-Link/Ethernet (dois por unidade)
• Conector de acoplamento de intertravamento de segurança CS-1616-3
• Guia de início rápido do 2601B-PULSE

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Aplicações típicas:

• Teste funcional I-V e caracterização de uma ampla gama de dispositivos, incluindo:
  • Dispositivos optoeletrônicos como lasers de emissão de superfície de cavidade vertical (VCSELs), diodos laser, diodos emissores de luz (LEDs), LEDs de alto brilho (HBLEDs), Displays

• Componentes Discreto e passivo, incluindo sensores, cabeças de disco, óxido Varistores óxido metálicos (MOVs), diodos, diodos Zener, sensores, capacitores, termistores
• CIs simples - Optos, drivers, interruptores, sensores, conversores, reguladores
• Dispositivos integrados - escala pequena integrada (SSI) e escala grande integrada (LSI), CIs analógicos, Circuitos de Frequência de rádio integrada (RFICs), Aplicação específica circuitos integrados (ASIC), Sistema em um chip (SOC)
• Dispositivos de Confiabilidade de nível de wafer, NBTI, TDDB, HCI, eletromigração
• Baterias
• Analises falhas
• E mais...

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Documentações:

• Datasheet

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Artigos Aplicações:

• Técnicas Avançadas de Análise de Falhas Usando Unidades de Medida de Origem e Termografia de Bloqueio